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技術(shù)特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì):
•
neaSNOM是目前世界上
唯一成熟的
s-SNOM產(chǎn)品
•
專利保護(hù)的散射式近場(chǎng)光學(xué)測(cè)量技術(shù)
——獨(dú)有的極高10 nm空間分辨率
•
專利的高階解調(diào)背景壓縮技術(shù)
——在獲得10nm空間分辨率的同時(shí)保持極高的信噪比
•
專
利保護(hù)的干涉式近場(chǎng)信號(hào)探測(cè)單元
•
專利的贗外差干涉式探測(cè)技術(shù)
——能夠獲得對(duì)近場(chǎng)信號(hào)強(qiáng)度和相位的同步成像
•
專利保護(hù)的反射式光學(xué)系統(tǒng)
——用于寬波長(zhǎng)范圍的光源:可見、紅外以至太赫茲
•
高穩(wěn)定性的
AFM系統(tǒng)
,
——同時(shí)優(yōu)化了納米尺度下光學(xué)測(cè)量
•雙光束設(shè)計(jì)
——極高的光學(xué)接入角:水平方向180°,垂直方向60°
•操作和樣品準(zhǔn)備簡(jiǎn)單
——僅需要常規(guī)的AFM樣品準(zhǔn)備過程
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