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RHK 超高真空掃描探針顯微鏡系統(tǒng)
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美國
RHK Technology
成
立于 1981 年。作為 SPM 工業(yè)中的領(lǐng)軍儀器制造商，RHK-Technology
始終保持著鮮明的特色：創(chuàng)新性、可靠性、產(chǎn)品設(shè)計(jì)的開放性與優(yōu)秀的客戶支持。憑借著其優(yōu)異的系統(tǒng)設(shè)計(jì)、精良的制造工藝、再加上與世界著名
科學(xué)家的緊密合作，二十多年來 RHK Technology 源源不斷地向全世界科學(xué)家們輸送著先進(jìn)的、高精度的科學(xué)分析儀器。
超高真空 Beetle式 變溫掃描探針顯微鏡 - UHV VT STM/AFM
UHV STM/AFM 系統(tǒng)
完整的超高真空 AFM/STM 系統(tǒng)，具有掃描速度快；震動隔離采用氣柱或者彈簧方式；具有自動化程度高的特點(diǎn)。
UHV STM/AFM子系統(tǒng) 超高真空 STM/AFM 首選子系統(tǒng)；樣品變溫范圍從小于 25 K 到大于 1500 K；配有震動隔離系統(tǒng)；原位針尖替換與轉(zhuǎn)移；易于與其他設(shè)備連接，從而構(gòu)建多腔體 SPM 系統(tǒng)。 
掃描探針顯微鏡表面分析系統(tǒng)
此系列的產(chǎn)品完美結(jié)合了 RHK SPM 與 Specs 生產(chǎn)的表面分析設(shè)備?？梢赃M(jìn)行多種表面分析操作；操作簡單、實(shí)驗(yàn)結(jié)果精確。超高真空Beetle式變溫變磁場系統(tǒng) - UHV VT VMF STM/AFM 
VMF系列掃描探針顯微鏡系統(tǒng)將變磁場環(huán)境引入到表面科學(xué)研究與實(shí)驗(yàn)中，無需制冷裝置，即可實(shí)現(xiàn)0~10000Gauss面內(nèi)連續(xù)可變磁場環(huán)境，在變磁場環(huán)境中，AFM/STM的功能和性能不受任何影響；樣品的變溫范圍從25K~1500K。
更多信息......超高真空低溫四探針表面分析系統(tǒng) - UHV LT QuadraProbe 
QuadraProbe四探針表面分析系統(tǒng)保證了樣品和四個STM探針都在10K下長時間穩(wěn)定 工作，每個探針的分辨率都達(dá)到了原子級分辨。在四個探針上方配有高分辨的SEM，用于對探針的粗定位與導(dǎo)航。樣品分析室中還選配有XPS、UPS、ISS、Auger、LEED和SAM等。RHK公司將最先進(jìn)的R9控制器配置到四探針系統(tǒng)中，用戶可以非常方面的實(shí)現(xiàn)對四個探針的獨(dú)立控制。
更多 信息......RHK公司產(chǎn)品簡介 （2.57M）
