碳納米管和石墨烯性能表征系統(tǒng)

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隨著納米技術(shù)的不斷發(fā)展，碳納米管和石墨烯的性能越來越受到科學(xué)家的關(guān)注。然而，對于碳納米管和石墨烯性能表征一直是困擾碳納米管和石墨烯技術(shù)研究和應(yīng)該的主要障礙。目前，碳納米管和石墨烯測量方法是光譜測量技術(shù)。相對其他測量方法，該技術(shù)主要有以下的優(yōu)點：
1、較高靈敏度，即使碳納米管和石墨烯的含量很低也能精確測量。
2、較高測量精度，對碳納米管的（nm）分辨率很高。
3、對待測樣品要求低，可直接分析含較多雜質(zhì)的樣品。
4、測量設(shè)備相對簡單，準(zhǔn)備待測樣品非常容易。
5、數(shù)據(jù)處理簡單，測量結(jié)果無需考慮背景減除。

對于碳納米管和石墨烯的表征，雖然光譜測量技術(shù)有很大的優(yōu)點，但是由于沒有一套系統(tǒng)是專門針對研究碳納米管和石墨烯而設(shè)計的，所以測量過程還是有些問題，如獲取數(shù)據(jù)速度太慢，測量靈敏度不是很高，手工處理數(shù)據(jù)非常繁瑣且容易出錯等等。世界著名的碳納米管專家美國萊斯大學(xué)的R. Bruce Weisman和Sergei M. Bachilo教授針對這些問題開發(fā)了碳納米管專用的測量系統(tǒng)NS3。使得NS3系統(tǒng)成為目前世界上唯一的碳納米管和石墨烯專用測量系統(tǒng)，可對碳納米管和石墨烯進行吸收、熒光和拉曼光譜測量。

Nano Spectralyzer (NS3)系統(tǒng) NS3上的測量結(jié)果：碳納米管的近紅外發(fā)射光譜

應(yīng)用領(lǐng)域：

測量碳納米管（n,m）分布
監(jiān)視碳納米管和石墨烯品質(zhì)的穩(wěn)定性
測量化學(xué)反應(yīng)和物理作用的動態(tài)過程

主要特點：
高度集成化，體積小巧
操作簡單，使用方便
僅需要很少的樣品
極高的測量靈敏度和測量速度
完美的操作界面，全自動測量和數(shù)據(jù)分析
同時測量樣品近紅外波長的吸收和發(fā)射光譜
采用電制冷材料冷卻近紅外光譜探頭，無需使用液氮

主要技術(shù)指標(biāo)：

  熒光光譜測量：
  可見區(qū)發(fā)射譜探測范圍： 400-900nm
  近紅外發(fā)射譜探測范圍： 900-1600nm
  可選近紅外發(fā)射譜探測范圍： -2000nm
  吸收譜測量：
  紫外吸收譜探測范圍： 210-450nm
  可見吸收譜探測范圍： 400-900nm
  紅外吸收譜探測范圍：900-1600nm
  可選紅外發(fā)射譜探測范圍：-2000nm
  拉曼光譜測量：
  拉曼光譜探測范圍： 150-3000cm-1
  激發(fā)光源波長： 532和/或671nm

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