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原位樣品與探針更換 :
操做簡單、快速;性能可靠
在低溫和超高真空環(huán)境中,樣品和針尖的原位更換一直是使用者非常關(guān)心的問題。為此,RHK公司為Pan式低溫掃描探針顯微鏡開放了一套性能可靠、操作簡單快速的原位樣品與針尖更換裝置,并提供了多個(gè)樣品與針尖的放置室。
Pan式低溫掃描探針顯微鏡中使用的樣品架靈活多樣,可充分滿足各種實(shí)驗(yàn)要求,如原位加熱、樣品剝離、樣品轟擊等等;同時(shí),它還兼容其他的商業(yè)化掃描探針顯微鏡中所配備的樣品架。 |
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兼容各種磁體和恒溫器
為充分滿足科學(xué)家的要求,RHK與尖端磁體和恒溫器制造商緊密合作,開發(fā)了低溫掃描探針顯微鏡整機(jī)系統(tǒng)和獨(dú)立掃描頭模塊系統(tǒng),根據(jù)用戶的特殊要求提供了一整套的解決方案。
RHK公司將世界上最先進(jìn)的全數(shù)字掃描探針顯微鏡控制器R9集成到Pan式掃描探針顯微鏡中,集中研發(fā)力量,推出了噪音極低的R9掃描控制系統(tǒng)和IVP-R9前置放大器。
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應(yīng)用案例: |
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Si(111)表面7X7重構(gòu),4K
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![]() Bi2Se3 表面形貌,4K |
部分用戶名單:
- University Of Texas |
- University of Maryland |
- University of Chicago |
- Columbia University |
- Technischen Universitat Berlin |
- Academica Sinica (2) |
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