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和茂儀器
產(chǎn)品中心

RHK UHV 掃描探針顯微鏡系統(tǒng)

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      美國(guó) RHK Technology 立于 1981 年。作為 SPM 工業(yè)中的領(lǐng)軍儀器制造商,RHK-Technology 始終保持著鮮明的特色:創(chuàng)新性、可靠性、產(chǎn)品設(shè)計(jì)的開放性與優(yōu)秀的客戶支持。憑借著其優(yōu)異的系統(tǒng)設(shè)計(jì)、精良的制造工藝、再加上與世界著名科學(xué)家的緊密合作,二十多年來 RHK Technology 源源不斷地向全世界科學(xué)家們輸送著先進(jìn)的、高精度的科學(xué)分析儀器。   

     R9 -- 全數(shù)字式SPM控制系統(tǒng)  

    作為全球頂級(jí)的掃描探針顯微鏡儀器制造商,美國(guó)RHK Technology公司在過去的20多年里向全世界的科學(xué)家們輸送了1000多套高性能的SPM控制系統(tǒng)。最近,RHK公司融合了當(dāng)前的先進(jìn)技術(shù),推出了革命性的新一代掃描探針顯微鏡控制平臺(tái)R9。它采用了全數(shù)字化的硬件系統(tǒng),噪音極低,性能優(yōu)異。單獨(dú)的R9 SPM控制平臺(tái)可以實(shí)現(xiàn)所有的STM、AFM和KFM等功能。而“拖放”式IHDLTM軟件系統(tǒng)可以輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)硬件和實(shí)驗(yàn)過程的定義與編輯,其獨(dú)特的設(shè)計(jì)思路和開放性的軟/硬件配置為研究領(lǐng)域的拓展奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ),在國(guó)內(nèi)著名高校和研究所已經(jīng)擁有了10多位客戶。
     
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    超高真空低溫四探針表面分析系統(tǒng) - UHV LT QuadraProbe

    QuadraProbe四探針表面分析系統(tǒng)保證了樣品和四個(gè)STM探針都在10K下長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定 工作,每個(gè)探針的分辨率都達(dá)到了原子級(jí)分辨。在四個(gè)探針上方配有高分辨的SEM,用于對(duì)探針的粗定位與導(dǎo)航。樣品分析室中還選配有XPS、UPS、ISS、Auger、LEED和SAM等。RHK公司將最先進(jìn)的R9控制器配置到四探針系統(tǒng)中,用戶可以非常方面的實(shí)現(xiàn)對(duì)四個(gè)探針的獨(dú)立控制。
     
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    超高真空變溫變磁場(chǎng)系統(tǒng) - UHV VT VMF STM/AFM

    VMF系列掃描探針顯微鏡系統(tǒng)將變磁場(chǎng)環(huán)境引入到表面科學(xué)研究與實(shí)驗(yàn)中,無需制冷裝置,即可實(shí)現(xiàn)0~10000Gauss面內(nèi)連續(xù)可變磁場(chǎng)環(huán)境,在變磁場(chǎng)環(huán)境中,AFM/STM的功能和性能不受任何影響;樣品的變溫范圍從25K~1500K。

     
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    超高真空變溫掃描探針顯微鏡 - UHV VT STM/AFM

    UHV STM/AFM 系統(tǒng)

      完整的超高真空 AFM/STM 系統(tǒng),具有掃描速度快;震動(dòng)隔離采用氣柱或者彈簧方式;具有自動(dòng)化程度高的特點(diǎn)。

     

    UHV STM/AFM子系統(tǒng)


      超高真空 STM/AFM 首選子系統(tǒng);樣品變溫范圍從小于 25 K 到大于 1500 K;配有震動(dòng)隔離系統(tǒng);原位針尖替換與轉(zhuǎn)移;易于與其他設(shè)備連接,從而構(gòu)建多腔體 SPM 系統(tǒng)。
    掃描探針顯微鏡表面分析系統(tǒng)
     
    此系列的產(chǎn)品完美結(jié)合了 RHK SPM 與 Specs 生產(chǎn)的表面分析設(shè)備??梢赃M(jìn)行多種表面分析操作;操作簡(jiǎn)單、實(shí)驗(yàn)結(jié)果精確。
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